此前的工藝技術為了得到板狀鉆石,通常將大型單結晶(晶錠)切成薄片,這處理,形成的切縫就會產生約1/3的加工損失,而且在晶圓加工后還要進行背面研磨等復雜的工序,這些均是有助于實現實用化的大量生產的障礙。
產綜研為了解決上述課題,從2003年開始就一直在研究利用微波等離子CVD法對大型單結晶鉆石進行合成的方法。截止目前已在大小為1克拉單結晶鉆石的合成方面獲得了成功。
該研究發現,通過在1200℃附近對表面溫度進行精密控制,并準確控制向甲烷及氫形成的反應氣體中添加的氮的含量,可控制方位不同的異常結晶的生長。另外,產綜研表示,通過優化鉆石結晶的生長條件,可實現比原來快5倍以上的50μm/小時的合成。
此次應用該方法進行了反復生長。該技術的特點是能夠以(100)面為生長面繼續生長。最初使具有(100)面的籽晶呈棒狀生長,接著對稱為(010)面的側面進行研磨、使結晶在該面上生長,然后再使結晶在(100)面上生長,從而使結晶逐漸大型化。采用該方法可制造6.6克拉的鉆石單結晶。
此外,產綜研還開發出了可減少損失、切割出板狀的直接晶圓化技術。直接晶圓化技術可在幾乎不浪費籽晶的情況下將晶圓切割成板狀,此次以良好的再現性制造出了10mm見方的晶圓狀鉆石。直接晶圓化技術在氣相沉積生長之前,事先注入作為籽晶的單結晶,然后在表面正下方導入缺陷層。氣相沉積生長后,缺陷層便會形成石墨構造,因此能夠以電氣化學性蝕刻去除。該方法在切割籽晶時會損失部分籽晶,不過其消耗僅在1μm以下。可反復使用籽晶,切離的晶圓還可作為籽晶使用。這樣一來就不再需要制造晶錠,而且也不需要背部研磨部分的生長。
此次由于使用的CVD裝置的關系,所制造的晶圓最大只有10mm見方,不過為了擴大鉆石半導體元件應用的可能性,今后將力爭制造出1英寸以上的晶圓。今后將致力于通過改進等離子發生裝置來實現均一化及大面積化,并采取導入現場觀察技術等手段來提高結晶質量。
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